| 題目： | 「LSIテスト技術の動向(VTS2018報告)」 |
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| 講師： | 畠山一実先生（群馬大学） |
| 日時： | 7月30日（月）12:40-14:10 |
| 場所： | 群馬大学理工学部（桐生キャンパス）総合研究棟303号室 |
| 概要： | AIやIoTの利用の広がりによるLSIの応用分野拡大に伴い， その品質確保のためのテスト技術の重要性が一段と高まっています。 本講演では，LSIテスト技術の最新動向として，2018年4月に米国で開催された VTS (VLSI Test Symposium) 2018における技術動向について紹介します。 |