| 題目： | 「LSIテスト技術の基礎と最新技術動向」 |
|---|---|
| 講師： | 畠山一実先生（群馬大学 協力研究員） |
| 日時： | 2019年8月1日（木）12:40-15:50 |
| 場所： | 群馬大学理工学部（桐生キャンパス）3号館509号室（E大教室） |
| 概要： |
IoTが本格化する中，LSIの応用分野拡大に伴ってその品質確保のためのテスト技術の重要性が 一段と高まっています。本講演では，LSIテスト技術の基礎として，論理回路のテスト生成手法 及びテスト容易化設計手法について説明します。そののち，LSIテスト技術の最新動向として， 今年4月に米国で開催されたVTS(VLSI Test Symposium)2019について報告します。さらに，近年 重要性が高まっているアナログ欠陥指向テストについても紹介します。 |