| 題目： | 「LSIテスト技術の基礎と動向（国際会議 ITC2017 報告）」 |
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| 講師： | 畠山一実先生 |
| （群馬大学） | |
| 日時： | 2018年2月5日（月） 12:40〜15:50 |
| 場所： | 群馬大学理工学部（桐生キャンパス総合研究棟502号室) |
| 概要： | AIやIoTの利用の広がりによるLSIの応用分野拡大に伴い，その品質確保のためのテスト技術の重要性 が一段と高まっています。 本講演では，LSIテスト技術の基礎として，論理回路のテスト生成手法及びテスト容易化設計手法について説明します。 さらに，LSIテスト技術の最新動向として，11月に米国で開催されたITC(International Test Conference)2017における 技術動向について紹介します。 AI: Artificial Intelligence 人工知能 IoT: Internet of Things モノのインターネット ITC (International Test Conference) LSIテスト関係の最大の国際会議 http://www.itctestweek.org/welcome-2017-itc/ |