| 題目： | 「デジタル、アナログLSIテスト技術の基礎」 |
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| 講師： | 小林春夫先生（群馬大学 教授） |
| 日時： | 2020年5月11日（月）12:40-14:10 |
| インターネット配信。 受講希望者は事務局（kuwana.anna[at]gunma-u.ac.jp）に5月8日（金）正午までにご連絡ください。 ZoomのURLをお送りします。 |
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| 概要： |
(1) 大学で何を学ぶか (2) 日米の大学私観 (3) デジタルLSIテスト技術の基礎 デジタルATE, 故障検出、スキャンパス, ロジックBIST, IDDQ, 加速試験 (4) SoC内 アナログ部テスト技術の基礎 (5) 研究開発事例： 低ひずみ信号発生技術（International Test Conference 2014 発表内容） この講演は、群馬大学大学院での「計測制御工学特論」を兼ねています。 講義・講演資料 https://kobaweb.ei.st.gunma-u.ac.jp/lecture/lecture.html |