| 題目： | LSIテスト技術の基礎と動向(VTS2021報告) |
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| 講師： | 畠山一実先生（Evaluto） |
| 日時： | 2021年06月29日（火）12:40-14:10 |
| インターネット配信。 |
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| 概要： |
デジタル変革(DX)のキーデバイスとしてのLSI応用分野の拡大に伴い，その品質確保のためのテスト技術の重要性が一段と高まっています。 本講演では，最初にLSIテスト技術の基礎として，論理回路のテスト生成手法及びテスト容易化設計手法について簡単に説明します。 さらに，LSIテスト技術の最新動向として，4月に開催されたVTS(VLSI Test Symposium)2021における技術動向について紹介します。 資料はこちら |