題目: | 「バイポーラトランジスタ特性入門」 「接地フィールドプレートデュアルRESURF n-LDMOSトランジスタのスイッチング特性」 |
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講師: | 松田順一 先生 (群馬大学客員教授) |
日時: | 2022年6月21日(火)14:20-17:30 |
インターネット配信。 |
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概要: |
(1)「バイポーラトランジスタ特性入門」 14:20-16:20 T ダイオードの特性 ・ビルトイン電位 ・階段接合 ・ダイオードの基本式 基本式(電流密度と擬フェルミ電位)、ダイオード内の擬フェルミ電位の位置変化、 少数キャリア密度と接合電圧との関係 ・電流・電圧特性 連続の式、電流・電圧特性(均一ドーピングのダイオード)、N+/Pダイオードの順・逆方向特性、 広いベースと狭いベースのN+/Pダイオード、ダイオードのリーク電流の温度依存性、 少数キャリアの基本特性(移動度、ライフタイム、拡散長) ・拡散容量 U バイポーラトランジスタの特性 ・NPNバイポーラトランジスタ構造と基本的なダイオード理論の修正 断面構造、印加電圧とエネルギー・バンド、基本的なダイオード理論の修正(準中性領域の電界の影響、高ドーピングの影響、 不均一エネルギー・バンドギャップの影響) ・理想的な電流・電圧特性 コレクタ電流、ベース電流、電流利得、理想的な IC-VCE 特性 ・典型的なNPNバイポーラトランジスタの特性 エミッタとベースの直列抵抗、Early電圧、ベース−コレクタ接合のアバランシェ現象、 高電流領域でのコレクタ電流の低下(ベース伝導度変調効果、ベース・ワイド二ング効果)、 低電流領域での理想ベース電流のずれ ・NPNバイポーラトランジスタの等価回路 DC等価回路、AC等価回路、小信号等価回路 ・NPNバイポーラトランジスタのブレークダウン電圧 (2)「接地フィールドプレートデュアルRESURF n-LDMOSトランジスタのスイッチング特性」 16:30-17:30 ・n-LDMOSトランジスタの用途と要求特性 ・従来(基本)n-LDMOSトランジスタの問題点 ・40 V 接地フィールドプレートデュアルRESURF n-LDMOSトランジスタ特性 デバイス構造、ID-VDS特性、ホットキャリア耐性(電界プロファイル)、スイッチング特性解析 ・100 V 接地2ステップフィールドプレートデュアルRESURF n-LDMOSトランジスタ特性 デバイス構造、ID-VDS特性、ホットキャリア耐性(電界プロファイル)、スイッチング特性解析 ・まとめ |
資料: |
バイポーラトランジスタ特性入門 接地フィールドプレートデュアルRESURF n-LDMOSトランジスタのスイッチング特性 |